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膜・フィルター評価:細孔分布

Porometer nano

分離膜欠陥構造解析装置

分離膜への水・ヘキサン・四塩化炭素の蒸気の毛管凝縮(Kelvin式)を利用し、キャリヤーガスの透過量からゼオライト膜などの細孔構造を評価します。

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詳細

  • コンピュータによる自動測定
  • 水銀を使用しない常圧における非破壊測定
  • 透過量・細孔分布の測定
  • ゼオライト分離膜、フィルター、中空糸などの測定が可能

仕様

細孔径範囲 0.55~9nm(水) 0.55~15nm(ヘキサン)
流量範囲 0.05~200 ml/min
測定可能蒸気 水、エタノール、ヘキサン、四塩化炭素
相対蒸気設定範囲 0.02~80%
測定温度 30~50℃
コンピュータ Windows7TM
電源 AC100V/15A 50-60Hz
寸法 760(W)×800(H)×500(D)mm
参考文献 F.P. Cuperus, D. Bargeman and C.A. Smolders, J.Membrane Sci.,71 (1992)
57.R.Gallaher and P.K.T. Liu, J. Membrane Sci.,92 (1994) 29.

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